Осциляції Фріделя

Матеріал з testwiki
Версія від 12:41, 20 січня 2025, створена imported>Uawikibot1 (вікіфікація)
(різн.) ← Попередня версія | Поточна версія (різн.) | Новіша версія → (різн.)
Перейти до навігації Перейти до пошуку
Рис.1. Екранування негативно зарядженої частинки в «басейні» позитивних іонів

Осциляції Фріделя[1] — періодичний розподіл електронної густини, що виникає при екрануванні електричного заряду дефекту.[2] Названі на честь французького фізика Жака Фріделя. Виникають унаслідок локалізованих збурень у металевій або напівпровідниковій системі, викликаних дефектом у фермі-газі або фермі-рідині.[3]

Осциляції Фріделя є квантово-механічним аналогом екранування електричного заряду заряджених частинок у «басейні» іонів (див. Рис. 1). У той час, як екранування електричного заряду використовує поняття точкових зарядів для опису складу іонного "басейну", осциляції Фріделя, що описують ферміони в фермі-рідині або фермі-газі, вимагають квантового опису розсіювання електронних хвиль на потенціалі дефекту. Такі осциляції відображують характерний експоненціальне загасання ферміонної щільності поблизу збурення, за яким слідує загасання 1/r3з осциляціями (r - відстань від дефекту).

Розсіювання на дефекті

Електрони, що рухаються в металі або напівпровіднику, подібні вільним електронам з хвильовою функцією у вигляді плоскої хвилі, тобто

ψ𝐤(𝐫)=1Ωei𝐤𝐫 .

Електрони в металі поводяться інакше, ніж частинки у звичайному газі, оскільки електрони є ферміонами, і вони підкоряються статистиці Фермі-Дірака. Така поведінка означає, що кожен k - стан у газі може бути зайнятий лише двома електронами з протилежним спіном. Зайняті стани заповнюють сферу в зонній структурі k - простору до фіксованого енергетичного рівня — енергії Фермі εF. Радіус кулі в k - просторі, kF=2m*εF/, називається хвильовим вектором Фермі, m* — ефективна маса.

Якщо в металі або напівпровіднику знаходиться чужорідний атом, так звана домішка, електрони, які вільно рухаються у провіднику, розсіюються потенціалом домішки. Оскільки електронний газ є фермі-газом, лише електрони з енергіями, близькими до рівня Фермі, можуть брати участь у процесі розсіювання, тому що повинні існувати порожні кінцеві стани з близькою енергією, в які могли б перейти розсіяні електрони. Стани навколо рівня Фермі, які можуть бути розсіяні, займають обмежений діапазон k — значень або довжин хвиль. Тому лише електрони в обмеженому діапазоні довжин хвиль поблизу енергії Фермі розсіюються, що призводить до модуляції густини заряду n(𝐫) навколо домішки. Для сферично симетричного потенціалу домішки, що має позитивний заряд, у тривимірному металі густина заряду осцилює, як функція відстані від домішки |𝒓|:

n(𝐫)=n0+14πr3ϵ(2kF)l(1)lZlcos(2kFr+δl) ,

де l — орбітальне квантове число, δl — фаза розсіювання парціальної компоненти хвильової функції електрона, ϵ(2kF) - діелектрична проникність металу з хвильовим вектором, що дорівнює подвоєний вектор Фермі. Надлишкова кількість електронів навколо домішкового йона визначається правилом сум Фріделя:

ΔN=lZl=2πl(2l+1)δl(kF).

Для довільної розмірності електронної системи, d=1,2,3, доданок до густини заряду на великій відстані від дефекту має вигляд:[4]

δn(𝐫)cos(2kF|𝐫|+δ)|𝐫|d.

Якісний опис

У класичному сценарії екранування електричного заряду спостерігається загасання електричного поля в зарядженій рідині, при наявності зарядженого об'єкта. Оскільки екранування електричного заряду розглядає рухомі заряди в рідині як точкові об'єкти, концентрація цих зарядів відносно відстані від точки зменшується експоненціально. Це явище описується рівнянням Пуассона–Больцмана.[5]

Локалізований біля дефекту заряд створюється швидкими електронами фермі-газу, які притягуються до дефекту, дещо сповільнюють свій рух біля нього та скупчуються в цій області. Існування різкої границі довжин електронних хвиль призводить до виникнення ефектів квантової інтерференції, внаслідок чого навколо центру, що розсіює, виникає гало заряду.[6]

Примітка. Там, де класично поблизу зарядженого збурення можна спостерігати переважну кількість протилежно заряджених частинок, у квантовомеханічному сценарії осциляцій Фріделя — це періодичні розташування протилежно заряджених ферміонів, за якими слідують простори з такими ж зарядженими областями.[3]

Візуалізація двовимірних осциляцій

Рис.2. Зображення сканувальної тунельної мікроскопії домішок Cr та сходинок на поверхні Fe (001).[7]

Сканувальна тунельна мікроскопія дозволяє з атомною роздільністю досліджувати локальну густину електронних станів ρ(𝐫,ε) (ЛГС) поблизу поверхні провідника:

ρ(𝐫,ε)=𝐤|ψ𝐤(𝐫)|2δ(εε𝐤),

де ψ𝐤(𝐫) — хвильова функція електрона з урахуванням розсіювання на дефекті, ε𝐤 — енергія електрона з двовимірним хвильовим вектором 𝐤, δ(x) — дельта-функція Дірака. Розсіювання на дефекті призводить до інтерференції хвиль і зміни густини станів, що відображає розсіювальні властивості дефекту.[8] Типовими дефектами поверхні є адсорбовані чужорідні одиничні атоми (точкові дефекти) і атомарні сходинки (лінійні дефекти) (Рис.2). Одним зі способів розуміння якісних характеристик стоячих хвиль біля східчастого краю є наближення, в котрому плоский східчастий край моделюється непроникним бар'єром для електронів поверхневих станів. Східчастий край створює вузол ЛГС, ρ(0,εF)=0, на межі сходинки x=0, а ЛГС на відстані x від сходинки описується рівнянням:[8]

ρ(x,εF)=m*π2[1J0(2kFx)],

де J0(x) — функція Бесселя першого роду. Двовимірні осциляції Фріделя спостерігалися, наприклад, на СТМ-зображенні чистої поверхні міді, на якій були розміщені наноострівки кобальту та точкові дефекти [9].

Посилання

Примітки

Шаблон:Reflist

  1. Шаблон:Cite book
  2. Шаблон:Cite web
  3. 3,0 3,1 Шаблон:Cite web
  4. Kai Sotthewes, Michiel Nijmeijer, and Harold J. W. Zandvliet Confined Friedel oscillations on Au(111) terraces probed by thermovoltage scanning tunneling microscopy. Шаблон:Webarchive PHYSICAL REVIEW B 103, 245311 (2021)
  5. Hans-Jürgen Butt, Karlheinz Graf, and Michael Kappl, Physics and Chemistry of Interfaces, Wiley-VCH, Weinheim, 2003.
  6. Шаблон:Cite web
  7. «Atomic-scale Observations of Alloying at the Cr-Fe(001) Interface» by A. Davies, J.A. Stroscio, D.T. Pierce, and R.J. Celotta, Phys. Rev. Lett. 76, 4175 (1996).
  8. 8,0 8,1 M. F. Crommie, C. P. Lutz, and D. M. Eigler, Nature (London) 363, 524 (1993); Science 262, 218 (1993).
  9. Шаблон:Статья